半导体测试设备厂爱德万测试。

半导体测试设备厂爱德万测试揭晓最新多功能H5620ES工程测试系统,针对现今实验室环境DDR4、次世代DDR5和低功率LPDDR装置举行高速预烧及测试。由于精简配件数目、缩短预烧及测试间的所需时间,可降低5G应用先进记忆体装置的丈量成本。

爱德万测试示意,此款工程测试系统能针对DDR4和DDR5举行平行测试,并容纳频率100-MHz、资料传输率200Mbps的记忆体晶片,针对产物开发事情举行使用优化,精巧的设计能节约空间,让实验室环境更灵活。

爱德万测试指出,H5620ES跟H5620生产单元都接纳FutureSuite作业系统,测试波形相同。并支援预先测试,在转移到H5620测试机前,可先在H5620ES系统举行检查,藉以缩短生产周期时间。

爱德万测试记忆体ATE事业群副总Takeo Miura示意,快速发展的5G市场对最新资料储存IC的需求量大增,此次新揭晓的H5620ES系统能协助业者,大幅精简产物开发与品质提升所需要的成本。H5620ES工程系统预计于本会计年度第二季最先出货。

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